ZSX Primus III NEXT
產品說明
ZSX Primus III NEXT為研究型高階掃描式WDXRF 元素分析儀。可進行高功率WDXRF微區分析、薄膜分析。
產品特點
- 非破壞性分析4Be~92U
- 適用於固狀、液狀、粉末與薄膜樣品
- 以極化光源激發，降低偵測極限
- 不需標準品即可進行半定量分析
- 以RPF-SQX降低標準品需求
- 新的譜峰重疊處理方式減少干擾誤差
- 以EZ Analysis簡化操作介面
應用範圍
- 石油產品和潤滑劑中的硫16S 和其他元素分析
- 原始材料中的主量和次量氧化物分析
- 食品和化學產品中的主量和微量元素以及污染物
- 電子和磁性材料、化學工業、陶瓷及水泥工業
- 鋼鐵工業、冶金、金屬工業
- 地質礦產(石灰石、礦沙、鋁土礦、礦渣)
- 塑膠以及高分子材料分析
- 微區分析、薄膜分析